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用于电力电子封装的溅射纳米晶银薄膜低温直接键合:键合机理、热特性及可靠性
Low-Temperature Direct Bonding of Sputtered Nanocrystalline Ag Film for Power Electronic Packaging: Bonding Mechanism, Thermal Characteristics, and Reliability
| 作者 | Dashi Lu · Xiuqi Wang · Hao Pan · Xiaoxiong Zheng · Mingyu Li · Hongjun Ji |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2024年5月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | 功率模块 可靠性分析 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 纳米晶银薄膜 芯片键合 电力电子封装 低温键合 热特性 可靠性 磁控溅射 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种磁控溅射纳米晶银(Nano-Ag)薄膜作为功率器件封装的芯片连接材料。该材料具有无有机物成分的特性,可在200°C空气环境下实现低温直接键合,为提升功率电子封装的连接性能与可靠性提供了新方案。
English Abstract
Nanocrystalline metal films are emerging as die-attach materials for power electronic packaging owing to their organic-free nature and capacity for low-temperature bonding. In this study, we proposed magnetron-sputtered nanocrystalline Ag (Nano-Ag) film as a die-attach material for power device packaging. Low-temperature direct bonding of Nano-Ag films was achieved at 200 °C in air, utilizing the ...
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SunView 深度解读
该技术直接关联阳光电源核心产品(如组串式/集中式逆变器、PowerTitan储能系统)中功率模块的封装工艺。随着SiC等宽禁带半导体应用普及,高功率密度对封装可靠性及散热要求极高。纳米银低温烧结技术可替代传统焊料,显著提升功率模块的耐高温性能与热循环寿命,降低热阻。建议研发团队关注该技术在高性能PCS模块中的应用,以提升产品在极端工况下的长期可靠性,并优化模块的紧凑化设计。