← 返回
基于关断延迟的共源共栅GaN器件结温在线提取方法
In-Operation Junction Temperature Extraction for Cascode GaN Devices Based on Turn-Off Delay
| 作者 | Zhebie Lu · Francesco Iannuzzo |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2024年4月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★ 4.0 / 5.0 |
| 关键词 | Cascode GaN 器件 结温提取 关断延迟 电力电子 热管理 宽禁带半导体 |
语言:
中文摘要
本文首次提出了一种基于关断延迟提取共源共栅(Cascode)氮化镓(GaN)器件结温的方法,并给出了电路实现方案。该方法在低栅极电阻下表现出良好的适用性,有效避免了自激振荡和额外损耗,为功率器件的实时热管理提供了新思路。
English Abstract
In this article, a method to extract the junction temperature of cascode gallium nitride (GaN) devices based on the turn-off delay is proposed for the first time, together with a possible circuit implementation. We described the method theory at first, which showed good applicability even at low gate-resistor values, allowing avoidance of self-sustained oscillations and extra losses. The circuit i...
S
SunView 深度解读
随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。该研究提出的结温在线提取技术,能够精准监测器件运行状态,对于优化逆变器热设计、提升系统可靠性及实现更激进的功率密度设计具有重要参考价值。建议研发团队关注该方法在PowerStack等高频化产品中的应用潜力,通过实时结温监测实现更精准的过温保护与寿命预测,从而进一步提升产品在严苛工况下的稳定性。