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功率器件技术 GaN器件 可靠性分析 ★ 4.0

具有超薄势垒结构的6英寸高压GaN基增强型HEMT:界面质量及其可靠性

6-in. high-voltage GaN-based E-mode HEMTs with ultrathin barrier structures: Interface quality and its reliability

Nan Sun · Ronghua Wang · Runxin Microelectronics Corporation · Wuxi China Resources Huajing Microelectronics Corporation 等6人 · Applied Physics Letters · 2025年3月 · Vol.126

本文报道了基于6英寸硅衬底的高压增强型GaN高电子迁移率晶体管(E-HEMT),采用超薄势垒层结构。通过优化界面控制与材料生长工艺,显著提升了异质结界面质量,有效降低了界面态密度并改善了二维电子气特性。器件表现出优异的击穿电压与导通电阻平衡特性,并在高温反向偏压应力下展现出良好的长期可靠性,界面退化机制被系统分析。该研究为高性能、高可靠GaN功率器件的规模化制造提供了技术支撑。

解读: 该研究的超薄势垒GaN E-HEMT技术对阳光电源的功率变换产品具有重要应用价值。6英寸晶圆规模化制造工艺可降低GaN器件成本,有利于在SG系列逆变器和ST系列储能变流器中推广应用。优化的界面质量和可靠性特性可提升产品在高温、高压工况下的稳定性,特别适合PowerTitan等大功率储能系统。器件优异...

功率器件技术 GaN器件 功率模块 宽禁带半导体 ★ 4.0

一种具有共模瞬态抗扰度和负电压操作设计的高频功率转换器单片GaN功率级

A Monolithic GaN Power Stage With Common-Mode Transient Immunity and Negative Voltage Operation Design for High-Frequency Power Converters

Rongxing Lai · Zekun Zhou · Junhong Wu · Yun Dai 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年7月

本文提出了一种用于高频功率转换的单片氮化镓(GaN)功率级。该方案集成了GaN基电路与功率开关,重点解决了GaN应用场景中的共模瞬态抗扰度(CMTI)和负电压操作问题,并采用缓冲屏蔽电平移位技术,为高频电力电子应用提供了高性能集成解决方案。

解读: GaN器件在高频化、高功率密度趋势下对阳光电源的产品升级至关重要。该研究提出的单片集成技术及CMTI优化方案,可直接赋能阳光电源的户用光伏逆变器及小型化充电桩产品,显著提升开关频率并减小磁性元件体积。建议研发团队关注其电平移位技术在驱动电路中的应用,以解决高频切换下的噪声干扰问题,提升系统可靠性。此...