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拓扑与电路 SiC器件 GaN器件 功率模块 ★ 4.0

用于紧凑型开关电路的GHz带宽双线圈磁电流传感器

GHz-Bandwidth Twin-Coil Magnetic Current Sensors for Compact Switching Circuits

Yushi Wang · Zhaobo Zhang · Renze Yu · Saeed Jahdi 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年6月

针对SiC和GaN功率变换器中电流开关瞬态的精确测量需求,本文提出了一种高带宽、高抗扰度且易于集成的磁电流传感器。该传感器旨在解决高EMI环境下传统磁线圈测量精度不足的问题,为宽禁带半导体器件的快速开关特性分析提供了有效的测试手段。

解读: 随着阳光电源在组串式逆变器和PowerTitan储能系统中大规模应用SiC和GaN功率器件,开关频率的提升带来了严峻的EMI挑战和瞬态电流测量难题。该技术对于研发阶段的功率模块性能评估、驱动电路优化及EMI抑制至关重要。建议研发团队将其应用于高频功率变换器的测试平台,以提升对快速开关瞬态的捕捉能力,...

功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

重复短路脉冲下平面型、对称及非对称沟槽型SiC MOSFET的退化分析

Degradation Analysis of Planar, Symmetrical and Asymmetrical Trench SiC MOSFETs Under Repetitive Short Circuit Impulses

Renze Yu · Saeed Jahdi · Phil Mellor · Li Liu 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年9月

本文分析了平面型、对称及非对称沟槽型SiC MOSFET在300K和450K温度下,经受重复短路脉冲时的可靠性。通过测量静态和动态参数,表征了三种结构的退化模式,并结合TCAD仿真揭示了其内部电热行为及退化机理。

解读: SiC MOSFET是阳光电源组串式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器以及电动汽车充电桩的核心功率器件。随着公司产品向高功率密度、高效率演进,SiC器件的应用日益广泛。本文深入对比了不同沟槽结构在极端短路工况下的退化机理,对阳光电源在功率模块选型、驱动保护电路设计及系统...

功率器件技术 IGBT 功率模块 热仿真 ★ 5.0

基于液态金属热界面材料的压接式IGBT器件热接触电阻优化

Thermal Contact Resistance Optimization of Press-Pack IGBT Device Based on Liquid Metal Thermal Interface Material

Xiao Wang · Hui Li · Ran Yao · Wei Lai 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年5月

在压接式IGBT(PP-IGBT)器件中,热接触电阻通常占总热阻的50%以上,严重影响散热并导致结温升高。本文提出了一种通过填充液态金属热界面材料来优化PP-IGBT热接触电阻的方法,旨在降低器件热阻,提升散热性能。

解读: 该技术对阳光电源的集中式逆变器及大功率储能系统(如PowerTitan系列)至关重要。PP-IGBT作为高压大功率应用的核心器件,其散热性能直接决定了系统的功率密度和长期运行可靠性。通过引入液态金属优化热接触电阻,可有效降低器件结温,从而提升逆变器在极端工况下的输出能力,或在同等散热条件下实现更紧凑...

储能系统技术 储能系统 SiC器件 ★ 4.0

重复应力条件下沟槽型碳化硅MOSFET短路安全工作区的确定

Determination of Short-Circuit Safe Operating Area of Trench SiC MOSFETs Under Repetitive Stress Conditions

Renze Yu · Saeed Jahdi · Phil Mellor · Olayiwola Alatise 等5人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年6月

在本研究中,对对称双沟槽和非对称沟槽碳化硅(SiC)金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管(MOSFET)在不同短路持续时间( ${t} {_{\text {sc}}}$ )和漏源电压( ${V} {_{\text {ds}}}$ )下进行了重复短路测量。对碳化硅MOSFET的短路安全工作区(SCSOA)进行了表征。结果表明,在所有测试条件下失效的器件均出现栅源短路故障。失效循环次数与短路能量( ${E} {_{\text {sc}}}$ )有关,而短路能量受 ${t} {_{\text {s...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于沟槽型SiC MOSFET短路安全工作区(SCSOA)的研究具有重要的工程应用价值。作为光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,SiC MOSFET的可靠性直接影响系统的安全性和全生命周期成本。 该研究揭示了重复短路应力下器件失效的关键机理,特别是栅源短路失效模式与...