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功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

一种基于间接功耗水平的SiC MOSFET快速短路保护方法

A Fast Short-Circuit Protection Method for SiC MOSFET Based on Indirect Power Dissipation Level

Wenyuan Ouyang · Pengju Sun · Minghang Xie · Quanming Luo 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年8月

本文提出了一种针对碳化硅(SiC)MOSFET的间接功耗水平短路保护(IPDL-SCP)方法。该方法利用正常导通与短路状态下源极寄生电感(Lss)两端电压振荡(vss)的差异,结合对漏源电压(vds)的直接监测,实现了对SiC器件的快速短路保护,有效提升了功率器件在极端工况下的可靠性。

解读: 随着阳光电源在组串式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统中大规模应用SiC MOSFET以提升功率密度和效率,器件的短路耐受能力成为可靠性设计的核心挑战。该IPDL-SCP方法无需复杂的电流传感器,通过监测寄生电感电压即可实现快速保护,具有低成本、高响应速度的优势。建议研发...

可靠性与测试 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

基于栅极电荷时间的平面型SiC MOSFET栅氧化层退化在线监测

Online Gate-Oxide Degradation Monitoring of Planar SiC MOSFETs Based on Gate Charge Time

Minghang Xie · Pengju Sun · Kaihong Wang · Quanming Luo 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年6月

栅氧化层退化是SiC MOSFET面临的关键可靠性问题之一。本文提出了一种通过提取特定栅极电压范围内的栅极电荷时间,对平面型SiC MOSFET进行在线栅氧化层退化监测的方法,为功率器件的健康状态评估提供了有效手段。

解读: 随着阳光电源在光伏逆变器(如组串式、集中式)及储能系统(如PowerTitan、PowerStack)中大规模应用SiC功率器件以提升功率密度和效率,器件的长期可靠性成为核心竞争力。该研究提出的在线监测方法无需额外复杂硬件,可直接集成于iSolarCloud智能运维平台或逆变器控制板中,实现对SiC...