找到 2 条结果 · IEEE Transactions on Power Electronics

排序:
功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

栅极回路电感不匹配对并联SiC MOSFET阈值电压离散性演变及电流分配的影响

Influence of Mismatched Gate Loop Inductance on Threshold Dispersity Evolution and Current Sharing of Parallel SiC MOSFETs

Lei Tang · Huaping Jiang · Xiaohan Zhong · Yihan Huang 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年5月

在大功率应用中,SiC MOSFET并联技术至关重要。然而,栅极电路的不对称性会导致栅极电感不匹配,进而引发电流不平衡。本文深入研究了阈值电压离散性的演变规律及其对并联器件电流分配的影响,为提升高功率密度电力电子系统的可靠性提供了理论支撑。

解读: 该研究直接关系到阳光电源大功率组串式逆变器(如SG系列)及大型储能系统(如PowerTitan系列)的核心功率模块设计。随着SiC器件在光储产品中的广泛应用,并联均流与长期可靠性是提升系统功率密度和效率的关键。该文献关于栅极回路电感对阈值电压漂移及电流不平衡影响的分析,对优化阳光电源功率模块的PCB...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

碳化硅MOSFET动态阈值电压漂移的恢复性能研究

Recovery Performance of the Dynamic Threshold Voltage Drift of Silicon Carbide MOSFETs

Xiaohan Zhong · Chao Xu · Huaping Jiang · Ruijin Liao 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年6月

碳化硅(SiC) MOSFET的阈值电压不稳定性备受关注,但针对其恢复性能的研究尚显不足。本文通过实验与仿真手段,深入探讨了SiC MOSFET阈值电压恢复的性能表现及其物理机制。

解读: 随着阳光电源在组串式光伏逆变器、PowerTitan储能系统及风电变流器中大规模应用SiC器件以提升功率密度和效率,器件的长期可靠性至关重要。阈值电压漂移直接影响开关损耗和驱动稳定性。本研究揭示的恢复机制有助于优化驱动电路设计及栅极驱动参数,从而提升阳光电源产品在复杂工况下的长期运行可靠性。建议研发...