找到 2 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

考虑互感耦合的Cu-Clip互连并联SiC MOSFET动态电流均衡解析与优化策略

Analytical and Optimal Strategy of Dynamic Current Balancing for Paralleled SiC MOSFETs With Cu-Clip Interconnection Considering Mutual Coupled Inductances

Xun Liu · Kun Ma · Yameng Sun · Yifan Song 等6人 · IEEE Transactions on Components, Packaging and Manufacturing Technology · 2025年4月

为提升碳化硅(SiC)功率模块的电气性能与可靠性,本文研究采用Cu-Clip替代传统Al引线的技术方案。针对Cu-Clip互连结构中并联SiC MOSFET因布局不对称引入的互感耦合效应,建立了精确的电磁耦合模型,提出一种动态电流均衡的解析分析方法,并进一步设计最优布局优化策略,有效抑制并联支路间的电流不均,提高模块整体性能与热稳定性。

解读: 该研究对阳光电源高功率密度产品的设计具有重要指导意义。Cu-Clip互连技术可显著提升SiC MOSFET模块的电流均衡性和散热性能,适用于ST系列储能变流器、SG系列光伏逆变器等大功率产品。特别是在PowerTitan等MW级储能系统中,优化后的SiC模块布局可有效降低开关损耗、提高功率密度,并通...

功率器件技术 SiC器件 多物理场耦合 ★ 4.0

4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究

A Study on Short Circuit Characteristics of 4H-SiC MOSFET Coupled With Electron Irradiation

Yan Chen · Yun Bai · Antao Wang · Leshan Qiu 等6人 · IEEE Transactions on Electron Devices · 2024年12月

本文研究了4H-碳化硅(SiC)MOSFET的电子辐照耦合短路(SC)特性。提出了电子辐照耦合的短路影响机制,并进一步研究了少数载流子寿命对辐照后器件短路特性的影响。采用2 MeV电子对4H-SiC MOSFET和4H-SiC晶圆进行辐照。分析了4H-SiC MOSFET静态参数的变化,并通过极限短路(LSC)测试方法研究了电子辐照耦合下4H-SiC MOSFET的短路特性。结果表明,辐照后,4H-SiC MOSFET的短路峰值电流增加了9.6%,临界短路失效时间(<inline-formula...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项关于4H-SiC MOSFET电子辐照耦合短路特性的研究具有重要的工程应用价值。SiC MOSFET作为我司光伏逆变器和储能变流器的核心功率器件,其可靠性直接影响系统的安全运行和全生命周期成本。 该研究揭示了电子辐照对SiC器件短路承受能力的退化机制:辐照后器件短路峰...