基于米勒平台电压的功率MOSFET栅极氧化层退化在线状态监测

Online Condition Monitoring of Power MOSFET Gate Oxide Degradation Based on Miller Platform Voltage

作者	Xuerong Ye · Cen Chen · Yixing Wang · Guofu Zhai · George J. Vachtsevanos
期刊	IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期	2017年6月
技术分类	可靠性与测试
技术标签	功率模块可靠性分析故障诊断
相关度评分	★★★★★ 5.0 / 5.0
关键词	功率 MOSFET 栅极氧化层退化状态监测米勒平台电压电力电子可靠性预测

语言:

中文摘要

功率器件的状态监测对开关电源系统的诊断与预测至关重要。针对功率MOSFET常见的栅极氧化层退化问题，本文提出了一种全新的在线监测前兆指标，通过监测米勒平台电压的变化，实现了对栅极氧化层退化程度的实时评估，填补了该领域在线监测方法的空白。

English Abstract

The condition monitoring problem of power devices is significant for diagnostics and prognostics of a switched-mode power supply (SMPS) system. For power mosfet, the gate oxide degradation often occurs in various applications. However, there is no online condition monitoring method for gate oxide degradation so far. In this paper, a new precursor that can be used for online condition monitoring of...

SunView 深度解读

该研究对于提升阳光电源核心产品（如组串式逆变器、PowerTitan储能系统及电动汽车充电桩）的可靠性具有重要意义。功率MOSFET/IGBT作为电力电子变换器的核心，其栅极可靠性直接影响设备寿命。通过集成该在线监测算法至iSolarCloud智能运维平台，可实现对逆变器及PCS功率模块的早期故障预警，从“事后维修”转向“预测性维护”，显著降低运维成本，提升电站资产的长期运行稳定性，特别适用于高可靠性要求的储能及光伏电站场景。