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基于热衰减系数的多芯片IGBT模块非均匀热疲劳状态监测
Condition Monitoring the Inhomogeneous Thermal Fatigue of Multichip IGBT Module Based on the Thermal Attenuation Coefficient
| 作者 | Jun Zhang · Huixian Shen · Xiong Du · Rui Chen |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2025年1月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 多芯片 IGBT 模块 热疲劳 状态监测 热衰减系数 可靠性 电力电子 散热器温度 |
语言:
中文摘要
多芯片IGBT模块广泛应用于高功率变流器中，但常面临非均匀热疲劳问题，影响整体可靠性。本文提出利用散热器多点温度监测IGBT模块内并联芯片的健康状态，通过热衰减系数实现对非均匀热疲劳的有效监控。
English Abstract
The multichip insulated gate bipolar transistor (IGBT) module has been widely used in the converter with high-power capacity. However, multichip IGBT module usually suffers from inhomogeneous thermal fatigue, which undermines the reliability of the whole assemble. This article proposed to use the multipoint temperature of radiator to monitor the health status of parallel chips in the IGBT module s...
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SunView 深度解读
该研究直接关联阳光电源核心产品（如组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能变流器）中功率模块的可靠性设计。在大功率应用场景下，IGBT模块的非均匀热疲劳是导致产品早期失效的关键因素。通过引入热衰减系数监测技术，阳光电源可在iSolarCloud智能运维平台中集成更精准的功率器件健康状态评估功能，实现从“事后维修”向“预测性维护”的转型。建议在研发阶段引入该监测算法，优化散热结构设计，并将其作为高可靠性储能PCS产品的差异化竞争力。