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功率器件技术 功率模块 可靠性分析 有限元仿真 ★ 4.0

平行板多芯片功率模块的蒙特卡洛统计公差分析

Monte Carlo Statistical Tolerance Analysis of a Parallel-Plate Multichip Power Module

作者 Danielle Lester · Mark Cairnie · Christina DiMarino
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 2024年12月
技术分类 功率器件技术
技术标签 功率模块 可靠性分析 有限元仿真
相关度评分 ★★★★ 4.0 / 5.0
关键词 蒙特卡洛分析 统计公差 多芯片功率模块 电力电子封装 互连柱 平面度 装配偏差
语言:

中文摘要

本文对一种无键合线平行板多芯片功率模块(MCPM)进行了蒙特卡洛统计公差分析。研究旨在评估采用柱状互连技术的模块平面度,并识别装配过程中对变异性贡献最大的部件。随着电力电子封装从键合线向柱状互连迁移,该技术实现了垂直平行板结构,显著提升了功率密度。

English Abstract

A Monte Carlo statistical tolerance analysis is conducted on a parallel-plate, wirebond-less multichip power module (MCPM) to analyze the planarity across modules with post interconnects and identify which parts in the assembly contribute the most variation. Power electronics packaging has migrated from wirebonds to post interconnects that allow for vertical, parallel-plate modules, improving powe...
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SunView 深度解读

该研究聚焦于功率模块的先进封装与制造公差分析,对阳光电源的组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统具有重要参考价值。随着公司产品向高功率密度、高集成度方向演进,采用柱状互连替代传统键合线是提升模块热性能与可靠性的关键路径。建议研发团队在开发下一代SiC/IGBT功率模块时,引入此类蒙特卡洛统计公差分析方法,以量化制造偏差对模块平面度及热阻的影响,从而优化封装工艺,提升产品在极端环境下的长期运行可靠性。