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交流滤波用金属化薄膜电容器的加速老化测试与失效机理分析
Accelerated Degradation Testing and Failure Mechanism Analysis of Metallized Film Capacitors for AC Filtering
| 作者 | Bo Yao · Xing Wei · Yichi Zhang · Pedro Correia · Rui Wu · Sungyoung Song · Ionut Trintis · Haoran Wang · Huai Wang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2024年5月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | 可靠性分析 故障诊断 功率模块 风光储 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 金属化薄膜电容器 交流滤波 加速退化试验 失效机理 可靠性分析 电力电子 工业应用 |
语言:
中文摘要
本文针对风电及牵引系统等工业应用中关键的交流滤波薄膜电容器,填补了其在真实应力条件下老化与失效分析的研究空白。文章通过加速退化测试,深入探讨了金属化薄膜电容器在实际工况下的失效机理,为提升电力电子设备的长期运行可靠性提供了理论依据与数据支撑。
English Abstract
Film capacitors for ac filtering play a crucial role in various industrial applications, such as wind power and traction systems. However, current research lacks studies on the aging and failure analyses of high-power ac film capacitors subjected to realistic stresses. This article addresses this gap by presenting degradation testing and failure analysis of metallized film capacitors employed in m...
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SunView 深度解读
薄膜电容器是阳光电源组串式/集中式光伏逆变器、风电变流器以及PowerTitan/PowerStack储能变流器(PCS)中的核心无源器件,其寿命直接决定了整机的可靠性。本文提出的加速老化测试方法和失效机理分析,可直接应用于阳光电源的可靠性实验室,优化电容选型标准与降额设计。建议研发团队结合该研究,针对高功率密度逆变器在极端环境下的热应力与电应力耦合影响,建立更精准的电容寿命预测模型,从而提升iSolarCloud平台的运维预警能力,降低电站全生命周期运维成本。