← 返回
| 作者 | Yiting Xiao · Yuanpeng Guan · Li Qin · Xiong Liu · Weixiong Wu |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2023年8月 |
| 技术分类 | 拓扑与电路 |
| 技术标签 | DAB 双向DC-DC 可靠性分析 储能变流器PCS |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 半桥DAB DC-DC变换器 寄生参数 潜行电路 图论 可靠性 触发机制 |
语言:
中文摘要
本文针对半桥双有源桥（S-DAB）DC-DC变换器，研究了寄生参数与动态潜电路路径对系统可靠性与安全性的影响。通过图论方法建立了基于电流的完整潜电路模型，揭示了其触发机制，并提出了相应的抑制方法，为提升变换器运行稳定性提供了理论支撑。
English Abstract
Parasitic parameters and dynamic sneak paths would lead to unexpected phenomena, exerting negative impacts on the reliability and safety of semi-dual active bridge (S-DAB) dc–dc converter. Therefore, a graph theory-based sneak circuit characteristics analysis, trigger mechanism, and suppression method of S-DAB are proposed in this article. The complete current-based sneak path modeling is obtained...
S
SunView 深度解读
该研究直接关联阳光电源的储能系统（如PowerTitan、PowerStack系列）及光储一体化产品中的核心DC-DC变换环节。S-DAB拓扑因其高功率密度常用于储能变流器（PCS）。文中提出的基于图论的潜电路分析方法，能有效识别高频开关过程中的寄生参数干扰，对于优化PCS功率模块的PCB布局、降低电磁干扰及提升极端工况下的可靠性具有重要工程价值。建议研发团队在下一代高功率密度PCS设计中引入该分析模型，以规避潜在的电路失效风险。