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基于外壳温度作为参考节点的功率模块集总热耦合模型
Lumped Thermal Coupling Model of Multichip Power Module Enabling Case Temperature as Reference Node
| 作者 | Mengqi Xu · Ke Ma · Xu Cai · Gongzheng Cao · Yalin Zhang |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2022年10月 |
| 技术分类 | 功率器件技术 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | IGBT模块 热阻抗矩阵 热耦合效应 多芯片功率模块 外壳温度 热建模 |
语言:
中文摘要
多芯片IGBT模块的热行为评估至关重要。本文提出了一种以模块外壳温度为参考节点的热阻抗矩阵模型,旨在简化多芯片功率模块内部热耦合效应的分析,提高热行为预测的准确性与工程应用便捷性。
English Abstract
Insulated gate bipolar transistor (IGBT) modules with multiple chips have wide range of applications, and the correct estimation for the thermal behaviors inside IGBT modules is becoming crucial. Thermal impedance matrix is one of the most adopted approaches to describe the thermal-coupling effect of IGBT module. For simplicity of analysis, the heatsink or ambient temperature is typically chosen a...
S
SunView 深度解读
该研究直接服务于阳光电源的核心功率器件应用。在组串式逆变器(如SG系列)和储能变流器(如PowerTitan/PowerStack)中,IGBT模块的结温管理是提升系统功率密度和可靠性的关键。通过采用以壳温为参考的热耦合模型,研发团队能更精确地评估多芯片并联下的热分布,从而优化散热器设计与过温保护策略。这不仅有助于延长核心功率器件的使用寿命,还能在极端工况下提升逆变器与PCS的输出能力,对降低产品故障率、提升iSolarCloud运维平台的健康度评估精度具有重要工程价值。