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利用栅极电荷持续时间监测多芯片IGBT模块键合线疲劳
Monitoring Bond Wires Fatigue of Multichip IGBT Module Using Time Duration of the Gate Charge
| 作者 | Kaihong Wang · Luowei Zhou · Pengju Sun · Xiong Du |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2021年1月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 故障诊断 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | IGBT模块 键合线疲劳 门极电荷 状态监测 电力电子 可靠性 故障诊断 |
语言:
中文摘要
本文提出了一种利用栅极电荷持续时间监测多芯片IGBT模块键合线疲劳的新方法。该方法在模块关断状态下进行，基于键合线疲劳导致的芯片分支失效会改变栅极电荷特性的原理，为多芯片IGBT模块的在线状态监测提供了一种低成本且有效的解决方案，有助于提升电力电子系统的可靠性与运维水平。
English Abstract
Monitoring the defective multichip insulated gate bipolar transistor (IGBT) module is a cost-effective approach to improve the quality of customer service. A method using time duration of the gate charge is proposed to monitor bond wires fatigue of the multichip IGBT modules when the modules are in the off-state. It is based on the fact that failure of the chip branch due to bond wires fatigue cha...
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SunView 深度解读
该技术对阳光电源的核心产品线（如组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统及风电变流器）具有极高的应用价值。IGBT作为功率变换的核心器件，其键合线疲劳是导致模块失效的主要原因之一。通过引入栅极电荷监测技术，阳光电源可在iSolarCloud智能运维平台中集成更精准的功率模块健康状态评估功能，实现从“事后维修”向“预测性维护”的转型。建议研发团队在下一代高功率密度逆变器及储能PCS中引入该监测算法，以提升设备在极端工况下的可靠性，降低全生命周期运维成本。