← 返回
基于功率循环测试的线性累积损伤理论实验研究
Experimental Investigation of Linear Cumulative Damage Theory With Power Cycling Test
| 作者 | Guang Zeng · Christian Herold · Torsten Methfessel · Marc Schafer · Oliver Schilling · Josef Lutz |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2019年5月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | IGBT 功率模块 可靠性分析 多物理场耦合 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 功率循环测试 线性累积损伤理论 寿命预测 功率半导体器件 正向电压 可靠性 |
语言:
中文摘要
本文通过单工况及组合工况下的功率循环测试，研究了线性累积损伤理论在功率半导体器件寿命预测中的适用性。通过监测负载电流下正向压降增加5%这一寿命终点标准，验证了该理论的有效性。
English Abstract
In this paper, several power cycling tests under single or combined test conditions were undertaken to investigate the applicability of linear cumulative damage theory in the lifetime prediction of power semiconductor devices. The validity of this theory was verified by an experimental method for one lifetime limit, which is an increase of forward voltage at load current by 5%. The corresponding f...
S
SunView 深度解读
功率半导体（如IGBT、SiC模块）是阳光电源光伏逆变器、储能变流器（PCS）及风电变流器的核心组件。该研究探讨的线性累积损伤理论及功率循环测试方法，直接关系到产品在复杂工况下的寿命评估准确性。对于PowerTitan、PowerStack等储能系统及组串式逆变器，通过该理论优化寿命预测模型，可显著提升产品在全生命周期内的可靠性设计水平，降低运维成本，并为iSolarCloud平台提供更精准的设备健康状态预警依据。