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功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 热仿真 ★ 4.0

温度对压接式IGBT内部压力分布的影响

Influence of Temperature on the Pressure Distribution Within Press Pack IGBTs

作者 Erping Deng · Zhibin Zhao · Zhongkang Lin · Ronggang Han · Yongzhang Huang
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 2018年7月
技术分类 功率器件技术
技术标签 IGBT 功率模块 可靠性分析 热仿真
相关度评分 ★★★★ 4.0 / 5.0
关键词 压接式 IGBT 压力分布 热接触电阻 热循环 高功率密度 电力电子
语言:

中文摘要

压接式(Press Pack)封装技术近年来被应用于高压大功率IGBT。内部压力分布对电气与热接触电阻、热循环能力及短路电流额定值至关重要。本文研究了温度变化对压接式IGBT内部压力分布的影响,旨在优化其机械结构与可靠性。

English Abstract

Press pack (PP) packaging technology has been applied to insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) for high-voltage and high power density applications in recent years. The pressure distribution within PP IGBTs is very important because it affects both the electrical and thermal contact resistances, thermal cycling capability, and short-circuit current rating. Too much pressure will mechanically ...
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SunView 深度解读

压接式IGBT(Press Pack IGBT)常用于高压大功率应用,与阳光电源的集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)中的核心功率模块设计密切相关。该研究揭示了温度波动对器件内部压力分布的影响,对于提升大功率变流器在极端工况下的热循环寿命和短路耐受能力具有重要指导意义。建议研发团队在进行高功率密度变流器设计时,将此压力分布特性纳入多物理场耦合仿真,以优化模块的结构可靠性,降低因热机械应力导致的失效风险。