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排序:
功率器件技术
SiC器件
功率模块
可靠性分析
★ 5.0
器件与电路不匹配对碳化硅MOSFET并联的影响
Influences of Device and Circuit Mismatches on Paralleling Silicon Carbide MOSFETs
Helong Li · Stig Munk-Nielsen · Xiongfei Wang · Ramkrishan Maheshwari 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年1月
本文研究了器件参数与电路布局不匹配对碳化硅(SiC)MOSFET并联运行的影响。通过从分立器件到多芯片功率模块的理论分析与实验验证,揭示了不匹配因素对电流分配及动态特性的影响,为高功率密度电力电子系统的设计提供了参考。
解读: 该研究对阳光电源的核心产品线具有极高价值。在PowerTitan储能系统及大功率组串式/集中式光伏逆变器中,SiC MOSFET的并联应用是提升功率密度与转换效率的关键。文章深入分析的器件与电路不匹配问题,直接关系到模块内部电流均衡与热应力分布,对优化逆变器及PCS的功率模块设计、提升系统长期运行的...