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可靠性与测试 可靠性分析 热仿真 ★ 3.0

FPGA中具有热与IR压降补偿的鲁棒自校准动态电压调节

Robust Self-Calibrated Dynamic Voltage Scaling in FPGAs With Thermal and IR-Drop Compensation

Shuze Zhao · Ibrahim Ahmed · Carl Lamoureux · Ashraf Lotfi 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2018年10月

FPGA因其并行处理能力和可重构性,广泛应用于高性能计算领域。本文针对FPGA在运行中受热效应和IR压降影响导致时序不稳定的问题,提出了一种鲁棒的自校准动态电压调节(DVS)技术,旨在通过实时补偿机制优化FPGA的运行频率与功耗,提升系统在复杂环境下的可靠性。

解读: 该技术主要涉及FPGA控制芯片的底层可靠性优化。对于阳光电源而言,随着iSolarCloud智能运维平台及各类逆变器、储能PCS控制核心(如DSP/FPGA)对计算性能和环境适应性要求日益提高,该研究具有参考价值。在高温、高负载的工业或户外应用场景下,引入热与IR压降的自校准补偿机制,可显著提升Po...