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可靠性与测试 可靠性分析 热仿真 ★ 3.0

FPGA中具有热与IR压降补偿的鲁棒自校准动态电压调节

Robust Self-Calibrated Dynamic Voltage Scaling in FPGAs With Thermal and IR-Drop Compensation

作者 Shuze Zhao · Ibrahim Ahmed · Carl Lamoureux · Ashraf Lotfi · Vaughn Betz · Olivier Trescases
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 2018年10月
技术分类 可靠性与测试
技术标签 可靠性分析 热仿真
相关度评分 ★★★ 3.0 / 5.0
关键词 FPGA 动态电压调整 (DVS) 热补偿 IR-Drop 可靠性 时序分析 高性能计算
语言:

中文摘要

FPGA因其并行处理能力和可重构性,广泛应用于高性能计算领域。本文针对FPGA在运行中受热效应和IR压降影响导致时序不稳定的问题,提出了一种鲁棒的自校准动态电压调节(DVS)技术,旨在通过实时补偿机制优化FPGA的运行频率与功耗,提升系统在复杂环境下的可靠性。

English Abstract

Field programmable gate arrays (FPGAs) are widely used in telecom, medical, military, cloud computing, and other high-performance computing applications, thanks to their unique combination of parallel hardware execution and reprogrammability. During compilation, the computer-aided design (CAD) tool estimates the maximum operating frequency of the user application based on the worst case timing ana...
S

SunView 深度解读

该技术主要涉及FPGA控制芯片的底层可靠性优化。对于阳光电源而言,随着iSolarCloud智能运维平台及各类逆变器、储能PCS控制核心(如DSP/FPGA)对计算性能和环境适应性要求日益提高,该研究具有参考价值。在高温、高负载的工业或户外应用场景下,引入热与IR压降的自校准补偿机制,可显著提升PowerTitan等储能系统及组串式逆变器核心控制板的抗干扰能力与运行稳定性,降低因时序抖动导致的控制失效风险,建议在下一代高算力控制平台设计中评估该技术的应用可行性。