Guang Zeng · Christian Herold · Torsten Methfessel · Marc Schafer 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年5月

本文通过单工况及组合工况下的功率循环测试，研究了线性累积损伤理论在功率半导体器件寿命预测中的适用性。通过监测负载电流下正向压降增加5%这一寿命终点标准，验证了该理论的有效性。

解读: 功率半导体（如IGBT、SiC模块）是阳光电源光伏逆变器、储能变流器（PCS）及风电变流器的核心组件。该研究探讨的线性累积损伤理论及功率循环测试方法，直接关系到产品在复杂工况下的寿命评估准确性。对于PowerTitan、PowerStack等储能系统及组串式逆变器，通过该理论优化寿命预测模型，可显著...