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基于P3HT:PCBM界面的SiC肖特基二极管中势垒非均匀性在宽温度范围内的分析
Analysis of barrier inhomogeneity in SiC schottky diodes with P3HT: PCBM interfaces over a wide temperature range
Tamer Güzel · Journal of Materials Science: Materials in Electronics · 2025年1月 · Vol.36.0
由于金属-半导体界面对于肖特基二极管电学特性具有重要影响,相关研究持续受到关注。本研究制备了结构为Au/P3HT:PCBM/6H-SiC/Al的肖特基二极管,并在80–375 K的宽温度范围内分析了其电流-电压特性。利用这些特性,结合热电子发射模型、Cheung-Cheung函数和Norde函数,计算了二极管的理想因子(n)、势垒高度(Φb)、串联电阻(Rs)和饱和电流(Io)等参数,并考察了这些参数之间的相互关系。通过Richardson图提取了Richardson常数(A*)。此外,基于高斯...
解读: 该SiC肖特基二极管界面特性研究对阳光电源功率器件应用具有重要价值。研究揭示的势垒不均匀性及温度特性分析,可指导ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器中SiC器件的选型与热设计优化。宽温区(80-375K)电流-电压特性数据为三电平拓扑中SiC二极管的可靠性评估提供理论依据,有助于提升PowerTi...