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DARPA三十年的热管理研究
Three Decades of Thermal Management Research at DARPA
Yogendra K. Joshi · Aaron H. Smith · Richard C. Eden · Sumit K. De · Journal of Electronic Packaging · 2025年1月 · Vol.147
自1992年成立以来,DARPA微系统技术办公室持续推动半导体器件领域的变革性进展。这些器件广泛应用于各类微系统中,其经济寿命取决于半导体材料本身及封装结构的机械耐久性。热管理方案直接影响微系统的性能与可靠运行寿命。该研究涵盖多尺度、多物理场的热调控技术,致力于提升高密度集成电子系统的散热效率与长期稳定性,支撑下一代高性能微系统的发展。
解读: DARPA的多尺度热管理技术对阳光电源功率器件应用具有重要价值。在SiC器件方面,多物理场耦合的热调控方法可直接应用于ST系列储能变流器和电动汽车驱动系统的功率模块设计,优化SiC MOSFET的结温控制与散热结构。针对高密度集成系统的热管理方案,可提升PowerTitan大型储能系统和SG系列大功...