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一种基于GaN eHEMT器件的快速开关集成全桥功率模块
A Fast-Switching Integrated Full-Bridge Power Module Based on GaN eHEMT Devices
Asger Bjorn Jorgensen · Szymon Beczkowski · Christian Uhrenfeldt · Niels Hogholt Petersen 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年3月
为充分发挥宽禁带半导体器件的优势，需开发新型封装及功率模块结构。针对千瓦级功率应用，传统封装体积庞大，难以集成驱动与测量电路。本文提出了一种基于GaN eHEMT器件的快速开关集成功率模块，通过优化封装结构提升了开关性能并实现了电路的高度集成。
解读: 该技术对阳光电源的户用光伏逆变器及小型储能系统（如PowerStack系列）具有重要参考价值。GaN器件的高频特性可显著缩小磁性元件体积，提升功率密度，助力产品小型化与轻量化。建议研发团队关注该模块的集成封装工艺，以解决高频开关下的寄生参数与电磁干扰问题，从而提升阳光电源在户用储能及微型逆变器领域的...
基于IGBT模块状态监测的功率变换器可靠性提升
Reliability Improvement of Power Converters by Means of Condition Monitoring of IGBT Modules
Ui-Min Choi · Frede Blaabjerg · Soren Jorgensen · Stig Munk-Nielsen 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年10月
电力电子系统在可再生能源、电机驱动及交通运输等领域地位日益重要。为满足安全性、成本及可用性的严苛要求，提升系统可靠性成为研究重点。功率器件作为核心组件，其健康状态监测对于预防故障、延长系统寿命及降低运维成本具有关键意义。
解读: 该研究直接关联阳光电源核心产品线（光伏逆变器、储能PCS、风电变流器）。IGBT是上述产品的核心功率器件，其可靠性直接决定了设备在极端环境下的运行寿命。通过引入在线状态监测技术，阳光电源可优化iSolarCloud智能运维平台，实现从“被动维修”向“预测性维护”的转型。建议在PowerTitan等大...
针对温度应力的功率器件模块可靠性评估功率循环测试方法
Power Cycling Test Methods for Reliability Assessment of Power Device Modules in Respect to Temperature Stress
Ui-Min Choi · Frede Blaabjerg · Soren Jorgensen · IEEE Transactions on Power Electronics · 2018年3月
功率循环测试是评估功率器件模块在温度应力下可靠性性能的关键手段，对于预测电力变换器中组件的寿命至关重要。本文综述了具有代表性的功率循环测试电路、失效指标测量电路以及针对不同功率循环策略的测量方法。
解读: 该研究直接关系到阳光电源核心产品（如组串式/集中式逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统）中功率模块的寿命管理。功率器件是变换器的核心，通过优化功率循环测试方法，公司能更精准地评估IGBT/SiC模块在复杂工况下的可靠性，从而提升iSolarCloud智能运维平台中关于设备寿命预...
结温波动持续时间对转移模塑功率IGBT模块寿命影响的研究
Study on Effect of Junction Temperature Swing Duration on Lifetime of Transfer Molded Power IGBT Modules
Ui-Min Choi · Frede Blaabjerg · Soren Jorgensen · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年8月
本文研究了结温波动持续时间对转移模塑功率IGBT模块寿命的影响，并建立了相应的寿命模型。研究基于先进功率循环测试装置在六种不同工况下的39组加速老化测试结果，旨在更真实地模拟模块在实际运行环境下的失效机理。
解读: 功率模块是阳光电源组串式逆变器、集中式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器（PCS）的核心组件。该研究揭示了结温波动持续时间对IGBT寿命的关键影响，对于优化阳光电源产品的热管理设计、提升功率循环下的可靠性评估精度具有重要指导意义。建议研发团队将此寿命模型集成至iSolarC...