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功率器件技术 SiC器件 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

1200V/150A SiC MOSFET在重复脉冲过流条件下的失效分析

Failure Analysis of 1200-V/150-A SiC MOSFET Under Repetitive Pulsed Overcurrent Conditions

James A. Schrock · Bejoy N. Pushpakaran · Argenis V. Bilbao · William B. Ray 等8人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2016年3月

SiC MOSFET是提升电力电子功率密度的关键器件。为使其全面替代IGBT,需深入研究其特性。本文针对两款1200V/150A SiC垂直平面栅D-MOSFET,通过重复脉冲过流测试,评估其在极端工况下的失效模式及机理。

解读: 该研究对阳光电源核心产品线具有极高参考价值。随着公司组串式逆变器及PowerTitan/PowerStack储能系统向更高功率密度演进,SiC器件已成为主流选择。过流条件下的失效分析直接关系到产品在复杂电网环境下的鲁棒性。建议研发团队参考该失效机理,优化驱动保护电路设计及短路保护逻辑,以提升SiC功...

功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 5.0

高迁移率稳定型1200V/150A 4H-SiC DMOSFET在高电流密度瞬态条件下的长期可靠性分析

High-Mobility Stable 1200-V, 150-A 4H-SiC DMOSFET Long-Term Reliability Analysis Under High Current Density Transient Conditions

James A. Schrock · William B. Ray II · Kevin Lawson · Argenis Bilbao 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年6月

为验证4H-SiC DMOSFET在电力电子应用中的长期运行能力,本文研究了其在极端高电流密度瞬态条件下的可靠性。通过评估器件在高温及大电流应力下的表现,分析了其失效机理,为SiC功率器件在严苛工况下的工程应用提供了可靠性评估依据。

解读: SiC器件是阳光电源提升逆变器功率密度和效率的核心技术。该研究针对1200V/150A SiC DMOSFET在高电流密度下的可靠性分析,直接支撑了公司组串式逆变器及PowerTitan系列储能PCS的功率模块选型与设计。随着产品向更高功率等级演进,瞬态电流冲击下的器件退化机理研究至关重要。建议研发...