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一种基于偏置温度不稳定性
BTI)的功率MOSFET退化路径依赖性识别方法
Xuerong Ye · Qisen Sun · Ruyue Zhang · Yifan Hu 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月
偏置温度不稳定性(BTI)是导致功率MOSFET关键运行参数退化的主要可靠性问题。准确识别退化的路径依赖性对于量化任务剖面下的累积退化至关重要,该研究旨在确定应力交互作用对器件退化的具体影响机制。
解读: 该研究直接关系到阳光电源核心产品(如组串式/集中式逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统)中功率模块的长期可靠性。随着产品向高功率密度和宽禁带半导体(SiC/GaN)应用演进,BTI效应导致的退化评估变得尤为关键。该方法可集成至iSolarCloud智能运维平台,通过对MOSFE...
小样本预测验证测试:电力电子变换器的不确定性感知设计与鲁棒维护策略
Small-Sample Prediction Validation Testing: Uncertainty-Aware Design and Robust Maintenance Strategy for Power Electronic Converters
Qisen Sun · Cen Chen · Xiao Cai · Junpeng Gao 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年11月
针对电力电子变换器(PECs)退化预测中数据稀缺与测试周期短的挑战,本文提出了一种不确定性感知的设计与维护策略。该方法旨在通过小样本验证提升预测准确性,从而优化维护决策,增强系统运行稳定性并降低故障风险。
解读: 该研究直接契合阳光电源在光伏逆变器及储能系统(如PowerTitan、PowerStack)全生命周期管理中的核心痛点。在实际应用中,由于现场运行环境复杂且故障数据稀缺,基于该文的不确定性感知预测模型,可显著提升iSolarCloud智能运维平台对功率模块及电容等关键部件的寿命预测精度。建议将此算法...
考虑工业应用中应力交互的电解电容累积退化建模
Cumulative Degradation Modeling of Electrolytic Capacitors Considering Stress Interactions in Industrial Applications
Qisen Sun · Cen Chen · Zicheng Wang · Xuerong Ye 等6人 · IEEE Transactions on Industrial Electronics · 2025年2月
电解电容器对电力电子变换器的功能至关重要,其性能退化会显著影响这些设备的安全性和可靠性。在工业应用中,电容器通常在动态而非恒定应力水平下运行。量化动态应力下的退化具有挑战性,因为这需要考虑潜在的应力相互作用。尽管此类相互作用会深刻影响退化路径,但它们常常被忽视,导致可靠性预测与工程实践之间出现显著偏差。本文引入了一种考虑应力相互作用的累积退化模型,以提高动态应力下退化预测的准确性。本文不仅识别出电解电容器参数退化中存在路径依赖现象,而且在此基础上,提出了一种将应力相互作用与现有恒定应力条件下退化...
解读: 电解电容器作为光伏逆变器和储能变流器的核心部件,其可靠性直接影响系统的全生命周期表现。该论文提出的累积退化模型对阳光电源具有重要的工程应用价值。 从业务场景看,我司产品在实际运行中面临复杂的动态应力环境:光伏逆变器需应对辐照度波动、温度循环和负载变化,储能系统则经历频繁的充放电切换。传统基于恒定应...