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高纹波电流与直流电压叠加下的金属化薄膜电容器加速老化研究
Accelerated Ageing of Metallized Film Capacitors Under High Ripple Currents Combined With a DC Voltage
Maawad Makdessi · Ali Sari · Pascal Venet · Pascal Bevilacqua 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2015年5月
金属化薄膜电容器因高介电强度和低损耗广泛应用于电力电子领域。然而，其可靠性仍是系统设计的瓶颈。本文研究了在高纹波电流与直流电压共同作用下，薄膜电容器的劣化机理，旨在通过建立老化模型实现寿命预测，从而提升电力电子系统的长期运行可靠性。
解读: 薄膜电容器是阳光电源组串式/集中式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器（PCS）中的核心被动元件，其寿命直接决定了产品的质保周期和运维成本。该研究揭示的纹波电流与直流电压耦合下的老化机理，对阳光电源优化逆变器及PCS的散热设计、电容选型及寿命评估算法具有直接指导意义。建议...