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高纹波电流与直流电压叠加下的金属化薄膜电容器加速老化研究
Accelerated Ageing of Metallized Film Capacitors Under High Ripple Currents Combined With a DC Voltage
| 作者 | Maawad Makdessi · Ali Sari · Pascal Venet · Pascal Bevilacqua · Charles Joubert |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2015年5月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | 可靠性分析 功率模块 热仿真 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 金属化薄膜电容 加速老化 纹波电流 直流电压 介质击穿 可靠性 寿命预测 |
语言:
中文摘要
金属化薄膜电容器因高介电强度和低损耗广泛应用于电力电子领域。然而，其可靠性仍是系统设计的瓶颈。本文研究了在高纹波电流与直流电压共同作用下，薄膜电容器的劣化机理，旨在通过建立老化模型实现寿命预测，从而提升电力电子系统的长期运行可靠性。
English Abstract
In view of their potential for high dielectric breakdown strengths, low dissipation factors, and good dielectric stability over a wide range of frequencies and temperature, metallized films capacitors are very used components for aeronautic applications. Nevertheless, capacitors remain unreliable components; a good acquaintance of their deterioration over time would enable us to perform a predicti...
S
SunView 深度解读
薄膜电容器是阳光电源组串式/集中式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器（PCS）中的核心被动元件，其寿命直接决定了产品的质保周期和运维成本。该研究揭示的纹波电流与直流电压耦合下的老化机理，对阳光电源优化逆变器及PCS的散热设计、电容选型及寿命评估算法具有直接指导意义。建议研发团队利用该模型改进iSolarCloud平台的寿命预测功能，实现对电容健康状态（SOH）的精准监测，从而提升全生命周期运维效率。