找到 4 条结果
氧等离子体与后退火辅助表面氧化实现高阈值电压E型p-GaN HEMTs
Oxygen plasma and post-annealing assisted surface oxidation for high- _V_ th E-mode _p_-GaN HEMTs
Mao Jia · Bin Hou · Ling Yang · Zhiqiang Xue 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年5月 · Vol.126
本文提出了一种结合氧等离子体处理与后退火工艺的表面氧化方法,用于制备高阈值电压(_V_th)的增强型p-GaN栅高电子迁移率晶体管(E-mode _p_-GaN HEMTs)。通过氧等离子体在p-GaN表面形成可控的氧化层,再经氮气氛围下高温退火优化界面质量,有效提升了栅介质与p-GaN间的界面特性,增强了Mg受主激活。该方法实现了稳定的增强型工作特性,阈值电压高达2.9 V,并显著降低了栅泄漏电流。研究为高性能E-mode HEMT器件的可控制备提供了可行方案。
解读: 该高阈值电压E型p-GaN HEMT技术对阳光电源的功率变换产品具有重要应用价值。通过氧等离子体和退火工艺提升的2.9V阈值电压,可显著改善GaN器件的开关特性和可靠性,特别适合应用于ST系列储能变流器和SG系列光伏逆变器的高频化设计。降低的栅极漏电流有助于提升系统效率,对车载OBC等对功率密度要求...
具有平滑模式切换的98.1%效率滞环电流模式非反相Buck-Boost DC-DC变换器
98.1%-Efficiency Hysteretic-Current-Mode Noninverting Buck–Boost DC-DC Converter With Smooth Mode Transition
Xiang-En Hong · Jian-Fu Wu · Chia-Ling Wei · IEEE Transactions on Power Electronics · 2017年3月
非反相Buck-Boost DC-DC变换器可在Buck、Boost或Buck-Boost模式下工作,适用于输入电压波动范围大的场景。针对传统四管拓扑因额外开关损耗导致的效率降低问题,本文提出了一种高效率滞环电流控制方案,实现了模式间的平滑过渡,显著提升了变换效率。
解读: 该技术对阳光电源的户用光伏逆变器及储能系统(如PowerStack)具有重要参考价值。在光伏组串电压波动大或电池电压范围宽的应用场景中,非反相Buck-Boost拓扑是提升系统效率的关键。通过优化滞环电流控制与模式切换逻辑,可进一步降低开关损耗,提升整机效率。建议研发团队关注该平滑切换技术,以优化i...
基于相变聚光长延时特性的PV-PCM-TE高效功率转换系统
Efficient Power Conversion Using a PV-PCM-TE System Based on a Long Time Delay Phase Change With Concentrating Heat
Ning Wang · Jian Tang · Heng-Sheng Shan · Hong-Zhi Jia 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年9月
本文提出了一种集成侧壁热电转换(TE)的PV-PCM-TE光伏/相变/热电自供电系统。该系统通过设计智能控制电路,利用实时温度追踪技术智能切换TE工作模式,有效利用相变材料的聚光热特性,提升了光伏系统的能量转换效率。
解读: 该研究探讨了光伏系统与相变材料及热电转换的集成,核心在于提升光伏组件的热管理与能量回收效率。对于阳光电源而言,该技术在短期内难以直接应用于组串式或集中式逆变器,但其热管理思路对iSolarCloud智能运维平台下的组件热特性分析具有参考价值。在户用光伏或分布式光伏领域,若未来光伏组件集成热电回收成为...
1.2-kV平面SiC MOSFET在重复UIS应力作用下阈值电压的演变
Evolution of threshold voltage in 1.2-kV planar SiC MOSFETs during repetitive UIS stressing
Chaobiao Lin · Ling Hong · Ding Wu · Na Ren 等5人 · Solid-State Electronics · 2025年8月 · Vol.227
本文对1.2-kV平面碳化硅(SiC)MOSFET进行了重复非钳位感性开关(UIS)应力实验,施加了不同的关断态栅极电压偏置(Vgs-off = 0 V/−5 V/−10 V),并观察了不同条件下导通电阻(Ron)和阈值电压(Vth)的演变情况。研究发现,在Vgs-off为−5 V和−10 V的条件下,Ron增大,Vth发生负向漂移。为探究Ron退化机制,开展了失效分析。扫描电子束观测结果证实,在UIS应力过程中,芯片上表面发生了铝(Al)熔融现象。关于Vth漂移,将器件所承受的重复UIS应力解...
解读: 该研究揭示SiC MOSFET在UIS应力下的阈值电压漂移机制,对阳光电源ST系列储能变流器和SG光伏逆变器的可靠性设计具有重要指导意义。研究发现负栅压会加剧热空穴注入导致阈值负漂,建议在PowerTitan等大功率储能系统中优化关断时栅极驱动策略,采用0V或小负压关断以延长SiC器件寿命。同时可结...