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肖特基旁路二极管在高温反向偏压运行条件下光伏组件中长期耐久性评估
Long term durability assessment of Schottky bypass diodes in photovoltaic modules under high temperature reverse bias operation
Karan P.Ran · Narendra Shiradka · Solar Energy · 2025年1月 · Vol.286
摘要 尽管光伏组件中的旁路二极管大部分时间处于反向偏置状态,且常常工作在升高的温度下,但目前尚无系统性的测试方法或评估流程来考察其对长期可靠性的影响。本文首次针对高温反向偏压(HTRB)运行条件下旁路二极管的耐久性进行了详细研究。从四种商用肖特基旁路二极管型号中各选取十个样品,在每一HTRB测试温度下进行试验。所有二极管在HTRB测试前均通过正向和反向I-V特性进行了表征。HTRB测试分别在120 °C、130 °C和140 °C下进行,持续1000小时或直至所有样品失效。所选测试温度低于被测二...
解读: 该研究揭示旁路二极管高温反偏失效机制,对阳光电源SG系列光伏逆变器及组串式方案具有重要价值。研究发现95%失效发生在前6小时且呈短路模式,可指导我们优化MPPT算法中的旁路二极管健康监测策略。通过反向漏电流特征预测失效的方法,可集成到iSolarCloud平台实现预测性维护。建议在1500V高压系统...