找到 1 条结果
排序:
功率器件技术
功率模块
可靠性分析
热仿真
★ 5.0
180 °C无压烧结银芯片互连技术在电力电子封装中的应用
Pressureless Sintered-Silver Die-Attach at 180 °C for Power Electronics Packaging
Meiyu Wang · Yun-Hui Mei · Jingyou Jin · Shi Chen 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年11月
本文开发了一种三峰银浆,通过使用三峰系统和170 °C可去除有机剂,实现了在180 °C下的无压烧结。该技术在电力电子封装中具有重要意义,能够有效降低残余热机械应力,避免芯片损伤,并实现高致密度的键合层,从而提升功率模块的可靠性。
解读: 该技术对阳光电源的功率模块封装工艺具有极高的参考价值。随着光伏逆变器和储能PCS向高功率密度、高可靠性方向发展,SiC等宽禁带半导体应用日益广泛,传统的焊料连接已难以满足严苛的热循环需求。无压烧结银技术不仅能提升模块的导热性能和耐高温能力,还能通过降低烧结温度减少芯片热应力,直接提升组串式逆变器及P...