Mouhannad Dbeiss · Yvan Avenas · Henri Zara · Laurent Dupont 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年12月

本文提出了一种针对光伏逆变器中功率半导体器件的加速老化测试新方法。通过分析法国多个光伏电站多年的输出电流和环境温度任务剖面，构建了一种综合考虑多种约束条件的特定老化测试曲线，旨在更准确地评估光伏逆变器在实际运行环境下的寿命与可靠性。

解读: 该研究直接服务于阳光电源的核心业务——光伏逆变器（组串式及集中式）。通过将实际电站的任务剖面（Mission Profiles）转化为加速老化测试标准，能够显著提升阳光电源产品在设计阶段的可靠性验证精度，缩短研发周期。该方法可直接应用于阳光电源功率模块的寿命预测模型优化，提升产品在极端环境下的长期运...