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功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

外延高介电势垒AlBN/GaN高电子迁移率晶体管

Epitaxial high-K barrier AlBN/GaN HEMTs

Chandrashekhar Savant · Kazuki Nomoto · Saurabh Vishwakarma · Siyuan Ma · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126

报道了一种基于外延生长的高介电常数(high-K)AlBN势垒层的GaN基高电子迁移率晶体管(HEMTs)。通过分子束外延技术实现了高质量AlBN与GaN之间的异质集成,显著增强了极化诱导的二维电子气浓度。该器件展现出优异的栅控能力、高击穿电压和低泄漏电流,得益于AlBN的高导带偏移和大带隙特性。研究为下一代高频、高功率电子器件提供了具有潜力的材料平台和技术路径。

解读: 该AlBN/GaN HEMT技术对阳光电源功率器件升级具有重要参考价值。高介电常数势垒层设计可提升GaN器件的栅控性能和击穿电压,有助于开发更高效的功率开关管。这项技术可应用于SG系列高频光伏逆变器和ST系列储能变流器的功率级设计,提升系统功率密度。特别是在1500V大功率系统中,该技术有望降低开关...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

具有66.5 mV/十倍频亚阈值摆幅和10⁹开/关比的MOCVD AlYN/GaN HEMT

MOCVD AlYN/GaN HEMTs with 66.5 mV/decade sub-threshold swing and 109 on/off ratio

Kazuki Nomoto · Isabel Streicher · Chandrashekhar Savant · Madhav Ramesh · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126

本文报道了通过金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长的AlYN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs),实现了优异的开关特性。器件展现出66.5 mV/decade的超低亚阈值摆幅,接近理论极限,同时获得高达10⁹的电流开/关比。该性能得益于高质量异质结界面与有效载流子调控,表明MOCVD技术在制备高性能GaN基低功耗电子器件方面具有巨大潜力,适用于下一代高频、高能效应用。

解读: 该MOCVD AlYN/GaN HEMT技术对阳光电源功率变换产品具有重要应用价值。66.5mV/decade的超低亚阈值摆幅和10⁹开关比特性,可显著提升SG系列光伏逆变器和ST系列储能变流器的开关效率,降低导通损耗。这一技术突破有望应用于新一代三电平拓扑中的GaN功率模块设计,为高频化设计提供器...