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r-GeO2薄膜的透射电子显微镜研究
A TEM study of MOCVD-grown rutile GeO2 films
Imteaz Rahaman · Botong Li · Brian Roy Van Devener · Kai Fu · Applied Physics Letters · 2025年1月 · Vol.126
超宽禁带半导体因其大禁带宽度和高击穿电场在下一代功率电子器件中具有广阔前景。金红石相GeO2(r-GeO2)因具备双极掺杂能力而备受关注,但其研究尚处初期,需深入探究结构特性以提升外延层质量。前期工作发现,在r-TiO2(001)衬底上通过金属有机化学气相沉积生长的r-GeO2薄膜呈现方形图案与平滑区域共存的表面形貌。本研究利用透射电子显微镜分析其结构特征,结果表明方形区域为结晶态,而平滑区域呈非晶态;测得(110)晶面间距为0.324 nm,略高于理论值0.312 nm。
解读: r-GeO2超宽禁带半导体(禁带宽度>4eV)研究对阳光电源功率器件升级具有前瞻价值。相比现有SiC器件(3.3eV),r-GeO2更高的击穿电场强度可支撑更高电压等级应用,适用于PowerTitan储能系统的1500V直流母线和ST系列储能变流器的功率模块设计。其双极掺杂能力为实现低导通损耗的IG...
用于GaAsP/Si太阳能电池的AlGaAsP分布式布拉格反射镜
AlGaAsP Distributed Bragg Reflectors for GaAsP/Si Solar Cells
Brian Li · Yiteng Wang · Adrian Birge · Bora Kim 等6人 · IEEE Journal of Photovoltaics · 2024年11月
研究在Si(001)上生长的(Al)GaAsP分布式布拉格反射镜(DBR),以提升GaAsP/Si叠层器件中1.7 eV GaAsP太阳能电池的量子效率(QE)。样品采用分子束外延生长,包含2.1 μm GaAsP/GaP缓冲层及约2 μm、20周期的GaAsP/AlₓGa₁₋ₓAsP交替层DBR。研究了x=0.4与x=0.8两种结构,目标峰值反射波长为700 nm。DBR平均穿透位错密度为1.4×10⁷ cm⁻²,适用于高性能电池。实测反射谱与模拟吻合良好,Al组分更高的DBR因折射率差更大而...
解读: 该AlGaAsP DBR技术通过提升GaAsP/Si叠层电池量子效率和电流匹配,使短路电流密度提升1 mA/cm²、相对效率提高5%,对阳光电源SG系列光伏逆变器的组件适配具有重要价值。高效叠层电池技术可推动1500V系统向更高功率密度发展,优化MPPT算法在宽光谱响应下的追踪效率。该技术对iSol...