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排序:
功率器件技术
功率模块
可靠性分析
★ 3.0
超级门极可关断晶闸管
SGTO)的有害电压升高现象及其优化方法
Zaixuan Shang · Jiapeng Liu · Jinpeng Wu · Xiaotong Shen 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年9月
本文分析了超级门极可关断晶闸管(SGTO)中出现的有害电压升高现象。通过仿真研究,明确了载流子浓度不足是导致电压升高的根本原因。此外,通过定量理论分析,研究了影响电压升高的关键因素,并提出了相应的优化方法。
解读: SGTO作为一种高压大功率电力电子器件,其电压升高现象直接影响器件的可靠性与开关损耗。对于阳光电源而言,该研究对于提升大功率集中式光伏逆变器及大型储能系统(如PowerTitan系列)中功率模块的选型与驱动电路设计具有参考价值。虽然阳光电源目前主流采用IGBT及SiC模块,但深入理解此类高压器件的物...