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功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

10kV SiC MOSFET和二极管软开关损耗的精确瞬态量热测量

Accurate Transient Calorimetric Measurement of Soft-Switching Losses of 10-kV SiC mosfets and Diodes

Daniel Rothmund · Dominik Bortis · Johann Walter Kolar · IEEE Transactions on Power Electronics · 2018年6月

本文针对现代高压SiC MOSFET的软开关损耗(SSL)表征难题,提出了一种精确的瞬态量热测量方法。该方法为中压固态变压器等采用软开关技术以提升转换效率的变换器系统建模提供了可靠依据,解决了传统开关损耗测量在宽禁带器件应用中的局限性。

解读: 随着阳光电源在中压光伏接入及大型储能系统(如PowerTitan系列)中对高压功率器件需求的增加,SiC技术的应用已成为提升系统功率密度和效率的关键。本文提出的高压SiC器件软开关损耗精确测量方法,对于优化公司中压变换器拓扑设计、提升系统热管理水平具有重要参考价值。建议研发团队将其应用于高压功率模块...