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排序:
功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

一种具有改进回滞特性的高压应用4H-SiC MOSFET静电放电保护装置

A 4H-SiC MOSFET-Based ESD Protection With Improved Snapback Characteristics for High-Voltage Applications

Kyoung-Il Do · Jong-Il Won · Yong-Seo Koo · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

本文提出了一种基于分段拓扑的n型金属氧化物半导体场效应晶体管(NMOSFET)的新型静电放电(ESD)保护装置。研究利用了4H-SiC作为宽禁带半导体(3.3 eV)的材料特性,旨在提升高压应用场景下的半导体器件可靠性,并优化了ESD保护装置的回滞特性。

解读: 该研究针对宽禁带半导体SiC在高压功率器件中的ESD保护问题,对阳光电源的核心产品线具有重要参考价值。随着公司在组串式逆变器、PowerTitan储能系统及高压充电桩中大规模应用SiC MOSFET,器件的静电防护与可靠性直接影响产品的现场故障率。该分段拓扑设计可提升功率模块在高压环境下的鲁棒性,建...