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功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于门极脉冲的SiC MOSFET器件在线温度测量方法

Online Temperature Measurement Method for SiC MOSFET Device Based on Gate Pulse

Xianwei Meng · Meng Zhang · Shiwei Feng · Yidan Tang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年4月

本文提出了一种基于SiC MOSFET漏源电流(Ids)与器件温度线性关系的在线测温新方法。通过研究SiC MOSFET转移特性曲线的温度敏感性,实现了在不增加额外硬件电路的情况下,利用门极脉冲信号对功率器件进行实时温度监测,为提升功率模块的运行可靠性提供了技术支撑。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高的应用价值。随着SiC器件在组串式光伏逆变器及PowerTitan/PowerStack储能变流器中的大规模应用,精确的结温监测是实现器件寿命预测与主动热管理的关键。该方法无需额外硬件,可直接集成于iSolarCloud智能运维平台,通过实时监控SiC模块热状态,...