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基于电压开关瞬态指纹的SiC功率MOSFET栅氧化层退化在线监测建模与分析
Modeling and Analysis of Monitoring Gate-Oxide Degradation of SiC Power MOSFETs in Circuit by the Fingerprints of Voltage Switching Transient
Y. Q. Chen · B. Hou · Y. H. Lin · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年12月
本文研究了基于电压开关瞬态指纹的SiC MOSFET栅氧化层退化监测原理与方法。建立了与SiC MOSFET氧化层陷阱相关的开通过程电压切换速率模型，并据此提出了相应的监测方法，为功率器件的健康状态评估提供了理论支撑。
解读: 该技术对阳光电源的核心业务具有极高价值。随着公司组串式逆变器及PowerTitan系列储能系统全面转向SiC功率器件以提升功率密度和效率，器件的长期可靠性成为关键挑战。该研究提出的基于开关瞬态指纹的在线监测方法，可集成至iSolarCloud智能运维平台或逆变器/PCS的控制固件中，实现对SiC器件...