找到 2 条结果 · IEEE Transactions on Power Electronics

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功率器件技术 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

IGBT智能栅极驱动与保护策略综述

Review of IGBT Intelligent Gate Drive and Protection Strategies

Ruyingjing Zhang · Xinmei Li · Jiafeng Ding · Shijie Chen 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年6月

本文综述了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的栅极驱动与短路保护策略,重点阐述了具备智能化特征的最新技术进展。文章探讨了如何通过先进的驱动与保护方案,提升电力电子系统的可靠性、效率及安全性。

解读: IGBT作为阳光电源光伏逆变器(如组串式、集中式)及储能系统(如PowerTitan、PowerStack)的核心功率器件,其驱动与保护策略直接决定了系统的可靠性与功率密度。随着阳光电源产品向更高功率等级和更严苛环境应用发展,引入智能栅极驱动技术(如实时结温监测、主动短路保护)能有效提升IGBT模块...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

通过瞬态热特性分析理解GaN HEMT在短路应力下的位错缺陷作用

Understanding the Role of Dislocation Defects of GaN HEMT under Short-Circuit Stress Through Transient Thermal Characterization

Xi Jiang · Yue Wu · Song Yuan · Xiangdong Li 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2025年8月

氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)在高压短路应力下易发生快速失效。研究表明,衬底界面的位错缺陷在诱导器件退化和热击穿失效中起关键作用。本文探讨了短路应力下位错缺陷的形成机制及其对热性能的影响。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能系统中对高功率密度要求的不断提升,GaN器件的应用潜力巨大。本文揭示的位错缺陷与短路热失效机制,对公司研发团队在GaN功率模块的选型、驱动保护电路设计及热管理方案优化具有重要参考价值。建议在产品开发中引入该瞬态热特性分析方法,以提升高频化、小型化产品的可靠性设...