找到 1 条结果 · IEEE Transactions on Power Electronics

排序:
功率器件技术 SiC器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 5.0

基于开关瞬态的SiC MOSFET结温估计及老化补偿方法

Switching Transient-Based Junction Temperature Estimation of SiC MOSFETs With Aging Compensation

Masoud Farhadi · Rahman Sajadi · Bhanu Teja Vankayalapati · Bilal Akin · IEEE Transactions on Power Electronics · 2024年10月

本文提出了一种SiC MOSFET在线结温(Tj)测量新方法。通过捕捉共源极杂散电感中的电压尖峰,获取SiC MOSFET的开关瞬态信息,进而提取与温度相关的特征参数,并实现了对器件老化效应的补偿,提高了结温估计的准确性。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高价值。随着公司在组串式光伏逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统中大规模应用SiC MOSFET以提升功率密度和效率,精准的在线结温监测是实现器件健康管理和寿命预测的关键。该方法无需额外传感器,通过提取开关瞬态即可实现结温感知,有助于优化逆变器...