找到 2 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

利用转移的LPCVD生长h-BN缓解AlGaN/GaN HEMT中的自加热效应

Mitigation of self-heating in AlGaN/GaN HEMTs using transferred LPCVD-grown h-BN

Cheng Chang · Kad Dokwan Kook · Chenyang Lin · Xiang Zhang 等5人 · Applied Physics Letters · 2025年8月 · Vol.127

本文报道了一种通过转移低压化学气相沉积(LPCVD)生长的六方氮化硼(h-BN)来有效缓解AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)中自加热效应的方法。将高质量h-BN薄膜集成于器件沟道附近,显著提升了横向热导率,改善了热量耗散。实验结果显示,器件的结温明显降低,连续工作下的温度上升减少了约40%,同时保持了良好的电学性能。该策略为提升第三代半导体器件的热管理能力提供了可行路径。

解读: 该研究提出的h-BN散热方案对阳光电源的GaN功率器件应用具有重要参考价值。通过LPCVD生长h-BN提升横向热导率的方法,可显著改善SG系列高频光伏逆变器和ST系列储能变流器中GaN器件的散热性能,有助于提高功率密度。结温降低40%的效果对车载OBC等对功率密度要求高的产品尤为重要。这一散热创新为...

功率器件技术 可靠性分析 功率模块 多物理场耦合 ★ 3.0

MMC-HVdc系统中IGCT极端失效的系统性分析与表征——第二部分:失效机理与短路特性

Systematic Analysis and Characterization of Extreme Failure for IGCT in MMC-HVdc System—Part II: Failure Mechanism and Short Circuit Characteristics

Wenpeng Zhou · Zhanqing Yu · Zhengyu Chen · Fanglin Chen 等11人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2022年5月

本文针对模块化多电平换流器(MMC)高压直流输电系统中集成门极换流晶闸管(IGCT)的短路失效模式(SCFM)进行了研究。由于IGCT封装结构的限制,其短路失效机理难以直接观测。本文通过多物理场分析,揭示了IGCT在极端失效条件下的电流密度变化及短路特性,为高压电力电子器件的可靠性评估提供了理论依据。

解读: 虽然阳光电源目前的核心产品线(光伏逆变器、储能PCS、充电桩)主要采用IGBT或SiC功率器件,而非IGCT,但该文献研究的极端工况下功率器件失效机理、多物理场耦合仿真方法以及短路特性分析,对于提升阳光电源大功率储能系统(如PowerTitan)和集中式逆变器中功率模块的可靠性设计具有重要的参考价值...