找到 4 条结果 · 功率器件技术

排序:
功率器件技术 SiC器件 GaN器件 功率模块 ★ 5.0

一种应用于SiC和GaN晶体管的通用SPICE场效应管模型

A Universal SPICE Field-Effect Transistor Model Applied on SiC and GaN Transistors

Achim Endruschat · Christian Novak · Holger Gerstner · Thomas Heckel 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2019年9月

本文提出了一种与技术和半导体材料无关的通用场效应管SPICE模型。该行为仿真模型基于测量数据构建,通过查找表与解析方程相结合的混合方法,实现了对温度相关输出特性的精确建模,从而在保证精度的同时显著提升了仿真速度。

解读: 宽禁带半导体(SiC/GaN)是阳光电源提升逆变器及储能PCS功率密度与效率的核心技术。该通用SPICE模型能够显著优化研发阶段的电路仿真精度,特别是针对高频开关下的损耗评估与热特性分析。在组串式逆变器与PowerTitan系列储能变流器的设计中,应用此模型可缩短功率模块的选型与验证周期,提升系统在...

功率器件技术 GaN器件 ★ 4.0

一种表征AlGaN/GaN HEMT多谐波色散效应的新方法

A Novel Method to Characterize Dispersion Effects in Multiharmonic for AlGaN/GaN HEMTs

Tianxiang Shi · Wenyuan Zhang · Yue Lei · Yan Wang · IEEE Transactions on Electron Devices · 2025年5月

本研究提出了一种表征氮化铝镓(AlGaN)/氮化镓(GaN)高电子迁移率晶体管(HEMT)多谐波色散效应的新方法,该色散效应包括陷阱效应和自热效应。在该方法中,设计了双脉冲测试以解耦表面和体陷阱效应以及自热效应,从而将陷阱态的表征从非工作区域扩展到工作区域。此外,还提出了相应的模型。陷阱模型考虑了不同位置的陷阱以及充放电的不对称时间常数。采用热子电路对自热效应进行建模。提出了一套完整的多谐波色散效应表征和参数提取流程。所提出的模型被集成到用于HEMT的高级SPICE模型(ASM - HEMT)中...

解读: 从阳光电源的业务视角来看,这项针对AlGaN/GaN HEMT器件多谐波色散效应的表征方法具有重要的战略价值。GaN功率器件凭借其高频、高效、高功率密度的特性,正成为光伏逆变器和储能变流器等核心产品的关键技术方向。 该研究通过双脉冲测试方法解耦表面陷阱、体陷阱和自热效应,这对提升我司产品性能至关重...

功率器件技术 SiC器件 ★ 4.0

SiC MOSFET结温监测与控制技术综述

A Review of Junction Temperature Monitoring and Control Techniques for SiC MOSFETs

张擎昊 · 郑大勇 · 张品佳 · 中国电机工程学报 · 2025年2月 · Vol.45

碳化硅(SiC)金属-氧化物-半导体场效应管(MOSFET)因其优异性能在工业领域广泛应用,其可靠性与结温密切相关,结温监测与控制成为研究热点。本文将该技术分为经典结温监测、考虑老化影响的监测及结温控制三类。综述了热模型法与热敏电参数法的原理与发展,分析老化对监测精度的影响及补偿必要性,并探讨内部控制与外部控制方法的优劣。最后指出当前关键问题与未来发展方向,为相关研究提供参考。

解读: 该研究对阳光电源SiC器件应用产品线具有重要指导价值。结温监测与控制技术可直接应用于ST系列储能变流器、SG系列光伏逆变器和电动汽车充电桩等高功率密度产品,有助于提升SiC MOSFET的可靠性和使用寿命。特别是考虑器件老化影响的监测方法,可用于iSolarCloud平台的预测性维护,实现产品全生命...

功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 4.0

将动态阈值电压纳入肖特基型p-GaN栅极功率HEMT的SPICE模型

Incorporating the Dynamic Threshold Voltage Into the SPICE Model of Schottky-Type p-GaN Gate Power HEMTs

Han Xu · Jin Wei · Ruiliang Xie · Zheyang Zheng 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年5月

本文研究了增强型肖特基型p-GaN栅极HEMT的阈值电压(VTH)对漏极偏置的依赖性。研究发现,器件从高漏压关断状态切换至导通状态时,所需的栅极电压高于静态特性预期。文章揭示了这种动态VTH现象的物理机制,并将其纳入SPICE模型以提高仿真精度。

解读: 随着阳光电源在户用光伏逆变器及小型化储能产品中对高功率密度要求的提升,GaN器件的应用前景广阔。该研究提出的动态阈值电压SPICE模型,能够显著提升电路仿真在宽禁带半导体应用中的准确性,避免因模型偏差导致的驱动电路设计失效。建议研发团队在开发下一代高频、高效率组串式逆变器及微型逆变器时,引入该动态模...