← 返回

利用声发射和数字图像相关法原位观测金属化氮化铝基板的退化

Observing In Situ Degradation of Metallized Aluminum Nitride Substrate by Acoustic Emission and Digital Image Correlation

作者
期刊 IEEE Transactions on Power Electronics
出版日期 日期未知
技术分类 可靠性与测试
技术标签 功率模块 可靠性分析 热仿真 有限元仿真
相关度评分 ★★★★★ 5.0 / 5.0
关键词 AMB-AlN 功率模块 热循环 声发射 数字图像相关法 老化 可靠性
语言:

中文摘要

本文研究了功率模块中常用的活性金属钎焊氮化铝(AMB-AlN)基板在剧烈温度变化下的退化机制。通过声发射和数字图像相关技术,实现了对AMB-AlN基板内部裂纹扩展及三维形变的实时原位观测,填补了该领域的研究空白,为提升功率模块的热循环可靠性提供了理论支撑。

English Abstract

Metallized aluminum nitride produced by active metal brazing (AMB-AlN) substrates is commonly used in power modules for heat dissipation but is susceptible to damage under large temperature variations. While previous studies have used thermal cycling tests ranging from −40 to 250 °C, in situ observations of degradation in AMB-AlN have not been reported. In this work, internal cracking and 3-D defo...
S

SunView 深度解读

功率模块是阳光电源组串式/集中式光伏逆变器、PowerTitan/PowerStack储能系统及风电变流器的核心组件。AMB-AlN基板的可靠性直接决定了功率器件在极端工况下的寿命。该研究提出的原位观测方法,可用于优化阳光电源功率模块的封装设计与热管理方案,提升产品在高温、高湿及剧烈温度波动环境下的长期稳定性,对降低产品全生命周期运维成本、提升iSolarCloud智能运维平台的故障预测精度具有重要工程参考价值。