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H桥功率单元开路故障的时域表征与检测
Time-Domain Characterization and Detection of Open-Circuit Faults for the H-Bridge Power Cell
| 作者 | Mayank Kumar |
| 期刊 | IEEE Transactions on Power Electronics |
| 出版日期 | 2021年1月 |
| 技术分类 | 可靠性与测试 |
| 技术标签 | 可靠性分析 故障诊断 功率模块 组串式逆变器 |
| 相关度评分 | ★★★★★ 5.0 / 5.0 |
| 关键词 | 开路故障 H桥功率单元 故障检测 半导体开关 时域表征 逆变器可靠性 |
语言:
中文摘要
本文研究了H桥功率单元中半导体开路故障（OCSF）的时域特征，包括单开关开路及开关-二极管对开路故障。针对对角开关开路且二极管正常时的故障特征相似性问题，提出了一种高效的故障检测算法，旨在提升功率变换系统的运行可靠性与故障诊断能力。
English Abstract
This article presents the time-domain characterization of semiconductor open-circuit switch faults (OCSFs), such as an open switch with a healthy diode and switch–diode pair open for the H-bridge power cell. The inverter fault signatures under diagonally opposite open switch fault conditions with a healthy diode are approximately similar; therefore, this article presents a detection algorithm with...
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SunView 深度解读
该研究对于提升阳光电源组串式逆变器及储能变流器（PCS）的可靠性至关重要。H桥是光伏逆变器和储能变换器的核心拓扑，通过该文提出的时域特征分析与故障检测算法，可显著提升iSolarCloud智能运维平台对功率器件早期故障的预警精度，降低运维成本。建议研发团队将该算法集成至逆变器控制固件中，实现对PowerTitan等储能系统功率模块的实时健康状态监测，从而增强产品在极端工况下的鲁棒性，提升市场竞争力。