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拓扑与电路 LLC谐振 可靠性分析 多物理场耦合 ★ 4.0

II类多层陶瓷电容器的损耗表征与建模:一种材料-微观结构-器件协同方法

Loss Characterization and Modeling of Class II Multilayer Ceramic Capacitors: A Synergistic Material-Microstructure-Device Approach

Yunlei Jiang · Borong Hu · Yanfeng Shen · Xufu Ren 等7人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年11月

本文针对高频谐振变换器中广泛使用的II类多层陶瓷电容器(MLCC),探讨了其在复杂电气工况(大信号、高频、直流偏置)下的损耗表征与建模问题。通过材料、微观结构与器件层面的协同分析,旨在解决现有模型在复杂工况下功率损耗预测不准确的难题,为高功率密度变换器设计提供理论支撑。

解读: MLCC是阳光电源组串式逆变器、户用储能系统及PowerTitan系列储能变流器中高频DC-DC变换环节的关键无源元件。随着产品向高功率密度和高频化演进,MLCC在复杂工况下的热失效和损耗问题直接影响系统可靠性。本文提出的多物理场协同建模方法,有助于研发团队在设计阶段更精准地评估电容损耗,优化散热布...