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非晶硅氢薄膜本征层光电二极管的光电流与电子结构分析
Photocurrent and electronic structure analysis of a-Si: H intrinsic layer photodiodes
Soni Prayogi · Deril Ristiani · Journal of Materials Science: Materials in Electronics · 2025年1月 · Vol.36.0
氢化非晶硅(a-Si:H)因其基本物理特性以及在低成本光电二极管应用中的潜力而受到广泛关注。本研究探讨了在氧化铟锡衬底上沉积的a-Si:H薄膜中,氢含量对光电流和电子结构的影响。结合拉曼光谱、原子力显微镜(AFM)、高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)、X射线光电子能谱(XPS)和场发射扫描电子显微镜(FESEM),系统研究了从纳米晶到完全非晶态a-Si:H薄膜在不同晶化程度下的光学特性及电子态密度分布。采用光谱椭偏仪对观测到的光学与电子结构进行了分析。复介电函数与由于电子-空穴相互作用引起的带...
解读: 该a-Si:H光电二极管研究对阳光电源SiC功率器件及光伏逆变器产品具有重要参考价值。氢含量调控电子结构的机理可启发SG系列逆变器中光伏电流检测传感器的优化设计,3.62的光电压响应率和6.88 A/cm²峰值电流密度表明其在1500V高压系统的电流采样电路中具有应用潜力。激子效应与电子-空穴相互作...