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兆瓦级MMC单子模块原位动态与稳态验证的部分功率硬件在环测试
Partial Power-Hardware-in-the-Loop Test for In-Situ Dynamic and Steady-State Validation of a Single Submodule in a Megawatt-Scale MMC
Jaeyeon Park · Dong-Joon Kim · Seung-Yong Lee · Jae-Jung Jung 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月
模块化多电平变换器（MMC）是高功率应用的关键技术，子模块（SM）的可靠性直接影响系统性能。本文提出一种部分功率硬件在环（P-HIL）测试方法，旨在开发阶段对单个子模块进行动态与稳态验证，以降低兆瓦级系统整体测试的成本与复杂性，确保其在各种工况下的可靠性。
解读: 该研究提出的P-HIL测试方法对阳光电源的研发具有重要参考价值。在阳光电源的兆瓦级储能系统（如PowerTitan系列）及大型集中式逆变器开发中，由于系统功率等级高，全功率测试成本极高。引入部分功率硬件在环测试，可以在研发早期阶段高效验证功率模块（SM）的动态性能与可靠性，缩短产品上市周期。建议研发...