找到 1 条结果

排序:
可靠性与测试 IGBT 功率模块 可靠性分析 ★ 5.0

用于功率半导体器件热稳定性增强的有源珀尔帖效应散热器

Active Peltier Effect Heat Sink for Power Semiconductor Device Thermal Stability Enhancement

Lijian Ding · Ruya Song · Shuang Zhao · Jianing Wang 等5人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年9月

针对功率半导体器件因周期性热应力导致的累积疲劳失效问题,本文提出了一种新型热抑制方法。通过在功率器件基板间嵌入珀尔帖效应散热器(PEHS),主动调节芯片温度波动,从而显著提升IGBT/MOSFET的运行可靠性与使用寿命。

解读: 该技术对阳光电源的核心产品线具有极高的应用价值。在组串式逆变器和PowerTitan/PowerStack储能系统中,IGBT模块的结温波动是限制功率密度提升和寿命的关键瓶颈。引入珀尔帖主动散热技术,可有效平抑极端工况下的热应力,显著提升变流器在高温或高频切换环境下的可靠性。建议研发团队评估该方案在...