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可靠性与测试 多电平 功率模块 可靠性分析 ★ 4.0

兆瓦级MMC单子模块原位动态与稳态验证的部分功率硬件在环测试

Partial Power-Hardware-in-the-Loop Test for In-Situ Dynamic and Steady-State Validation of a Single Submodule in a Megawatt-Scale MMC

Jaeyeon Park · Dong-Joon Kim · Seung-Yong Lee · Jae-Jung Jung 等6人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 预计 2026年5月

模块化多电平变换器(MMC)是高功率应用的关键技术,子模块(SM)的可靠性直接影响系统性能。本文提出一种部分功率硬件在环(P-HIL)测试方法,旨在开发阶段对单个子模块进行动态与稳态验证,以降低兆瓦级系统整体测试的成本与复杂性,确保其在各种工况下的可靠性。

解读: 该研究提出的P-HIL测试方法对阳光电源的研发具有重要参考价值。在阳光电源的兆瓦级储能系统(如PowerTitan系列)及大型集中式逆变器开发中,由于系统功率等级高,全功率测试成本极高。引入部分功率硬件在环测试,可以在研发早期阶段高效验证功率模块(SM)的动态性能与可靠性,缩短产品上市周期。建议研发...

拓扑与电路 GaN器件 宽禁带半导体 功率模块 ★ 3.0

基于GaN的10 kVA D类功率放大器,具有100 kHz大信号带宽和4.8 MHz开关频率

100 kHz Large-Signal Bandwidth GaN-Based 10 kVA Class-D Power Amplifier With 4.8 MHz Switching Frequency

Pascal S. Niklaus · Johann W. Kolar · Dominik Bortis · IEEE Transactions on Power Electronics · 2023年2月

本文提出了一种基于GaN器件的10 kVA D类功率放大器,实现了4.8 MHz的开关频率和100 kHz的大信号带宽。该技术主要用于电力硬件在环(P-HIL)测试中模拟电网或电机行为,通过高带宽特性精确表征宽禁带半导体电力电子系统的动态响应与阻抗特性。

解读: 该技术展示了GaN器件在高频功率转换中的极致性能,对阳光电源的研发具有重要参考价值。在产品线应用方面:1. 研发侧:可应用于iSolarCloud智能运维平台下的电力电子系统仿真测试,提升P-HIL测试精度;2. 逆变器/PCS:虽然目前光伏逆变器和储能PCS(如PowerTitan)受限于成本和功...