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功率器件技术 GaN器件 宽禁带半导体 可靠性分析 ★ 4.0

1.2kV垂直结构氮化镓

GaN)p-n二极管的浪涌电流与雪崩耐受能力

Jingcun Liu · Ruizhe Zhang · Ming Xiao · Subhash Pidaparthi 等9人 · IEEE Transactions on Power Electronics · 2021年10月

本文报道了基于100mm氮化镓衬底制造的业界首款1.2kV级垂直结构GaN p-n二极管的雪崩与浪涌电流耐受性。该器件面积为1.39mm²,击穿电压达1589V,在非钳位感性开关测试中表现出7.6J/cm²的临界雪崩能量密度,并具备优异的浪涌电流耐受能力。

解读: 随着阳光电源在光伏逆变器和储能PCS领域对高功率密度和高效率的追求,1.2kV垂直GaN器件的成熟具有重要意义。相比SiC,GaN在更高频率下具备更低的开关损耗,该研究验证了其在极端工况(雪崩与浪涌)下的可靠性,为未来在户用光伏逆变器及小型化储能模块中替代SiC器件提供了技术储备。建议研发团队关注其...